Шкилько, А. М., і И. В. Компанеец. 2010. «Метрологическое обеспечение измерителя контактной разности потенциалов». Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Нові рішення у сучасних технологіях 1 (57):150-53. http://vestnik2079-5459.khpi.edu.ua/article/view/46654.