Шкилько, А. М., і И. В. Компанеец. «Метрологическое обеспечение измерителя контактной разности потенциалов». Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Нові рішення у сучасних технологіях, т. 1, вип. 57, Січень 2010, с. 150-3, http://vestnik2079-5459.khpi.edu.ua/article/view/46654.