ДОСЛІДЖЕННЯ ДИФУЗІЙНОЇ ДОВЖИНИ НЕРІВНОВАЖНИХ НОСІЇВ ЗАРЯДУ В БАЗОВИХ ШАРАХ ТЕЛУРИДУ КАДМІЮ - Доброжан, Андрій; Хрипунов, Геннадій; Хрипунова, Аліна; Хрипунов, Михайло; Кіріченко, Михайло; Зайцев, Роман (Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Нові рішення у сучасних технологіях, 2024)
Тонкоплівкові зразки телуриду кадмію були виготовлені за допомогою термічного вакуумного випарювання з метою дослідження дифузійної довжини неосновних носіїв заряду. Аналіз початкового стану проводили за допомогою рентгеноструктурних досліджень телуриду кадмію, конденсованого на скляних підкладках. Аналіз виявив два дифракційних відбиття, що відповідають віддзеркаленням сімейств кристалографічних площин (111) і (333). Розрахунки показали, що розміри областей когерентного розсіювання склали 93 нм і 56 нм, а значення мікродеформацій визначено як 11,6×10−3 і 4,8×10−3 для цих площин відповідно. Електронографічні дослідження ідентифікували вісь зони сформованих плівкових структур [110]. Крім того, спостерігалося двійникування та формування шаруватої субструктури всередині тонких плівок телуриду кадмію. Мікроскопічні дослідження поверхні дозволили зрозуміти рельєф поверхні, виміряний на рівні приблизно 130 нм, і розмір полікристалічного зерна, визначений як 1 мкм. Для дослідження електрофізичних властивостей тонких плівок телуриду кадмію застосовано метод спектральної залежності малосигнальної поверхневої фотоелектричної напруги. Розрахована довжина дифузії неосновних носіїв заряду становить 0,45 мкм, що становить половину розміру зерна в 1 мкм. Крім того, досліджено коефіцієнт пропускання телуриду кадмію в діапазоні довжин хвиль 800–900 нм. Енергія оптичної забороненої зони становила 1,4 еВ, що трохи менше, ніж 1,5 еВ, що спостерігається для монокристалічного телуриду кадмію. Підсумовуючи, плівкові структури телуриду кадмію, отримані термічним вакуумним випаровуванням, демонструють електрофізичні та електричні параметри, нижчі за монокристалічний телурид кадмію. Ці характеристики, зокрема низька дифузійна довжина неосновних носіїв і короткий час загасання електричного сигналу, роблять такі плівкові структури придатними для використання в пристроях, що вимагають тривалої стабільності під впливом часу, екстремальних температур, електричних полів і випромінювання.