Вплив вторинних дефектів на надійність динамічних інформаційних систем

Автор(и)

  • Д. А. Маевский Одесский национальный политехнический университет Просп. Шевченко, 1, г. Одесса, Украина, 65044, Україна

Ключові слова:

Надійність програмного забезпечення, вторинні дефекти, теорія динаміки програмних систем, динамічні інформаційні системи

Анотація

Проведено дослідження впливу вторинних дефектів в програмному забезпеченні динамічних інформаційних систем на їх надійність. Виявлена та досліджена тенденція збільшення кількості вторинних дефектів на початковій стадії процесу тестування, що негативно впливає на надійність

Біографія автора

Д. А. Маевский, Одесский национальный политехнический университет Просп. Шевченко, 1, г. Одесса, Украина, 65044

Кандидат технических наук

Заведующий кафедрой теоретических основ и общей электротехники

Посилання

Hill Company. — 1996. — 805 p.

Moranda, P. B. Software Reliability Research / P. B. Moranda, J. Jelinski // Statistical Computer Performance Evaluation. — New York: Academic Press, 1972. — 15 p.

Wagner, S. A Software Reliability Model Based on a Geometric Sequence of Failure Rates / S. Wagner, H. Fischer // Technical Report TUMI-0520, Institut für Informatik. — München: Technische Universität München. — 2005.

Одарущенко, О. Н. Учет вторичных дефектов в моделях надежности программных средств / О. Н.Одарущенко, А. А. Руденко, В. С. Харченко // Математичні машини і системи. — 2010. — № 1. — с. 205—217.

Маевский, Д. А. Динамика программных систем и модели их надежности [Текст] / Д. А. Маевский // Сб. Радиоэлектронные и компьютерные системы. — 2011. — №.2 — С. 45—54.

Maevsky, D.A. Software reliability. Non probabilistic approach/ Dmitry A. Maevsky, Helen D. Maevskaya, Alexander A. Leonov // Reliability : Theory & Applications. Electronic Journal. — 2012. — Vol.7 No. 3 — p. 8 – 20

##submission.downloads##

Опубліковано

2012-10-01

Як цитувати

Маевский, Д. А. (2012). Вплив вторинних дефектів на надійність динамічних інформаційних систем. Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Нові рішення у сучасних технологіях, (50), 54–58. вилучено із http://vestnik2079-5459.khpi.edu.ua/article/view/5172